由於EV / HEV 車用成長趨勢最為顯著,在工業設備、軌道車輛及電源供應器等領域也都有增加的趨勢。EV / HEV 車用高功率模組由於應用環境嚴苛,模組封裝的可靠度問題非常嚴重,而影響可靠度的主要原因之一即來自熱的問題。 MicReD 的 Power Tester 是針對高功率半導體元件,同時針對熱以及可靠度壽命測試做量測。主要量測對象為 IGBT,MOSFET 及 DIODE。
The efficient measurement for MOSFET, IGBT 及 DIODE
Power Cycling 是一種很常見的方法,用來研究功率電子元件 (Power Electronic Devices) 的可靠度,尤其是功率模組 (Power Modules)。而IGBT Module 廠商通常會提供Power Cycling life 的數據,使用者不能超過 Power Cycling life 的上限。
Integrated Rth and Power Cycling measurement system